18.02.2019

Ein internationales Autorenteam, darunter Hans-Christian Hege (ZIB), erhielt einen Best Poster Award für seinen Beitrag "Tools for the Analysis of Datasets from Computed Tomography Based on Talbot Lau Grating Interferometry" auf der ICT2019 - 9th International Conference on Industrial Computed Tomography in Padua (Italien). Die Preisträger wurden durch eine Abstimmung des Konferenzpublikums ermittelt.